上海佑科双光束紫外可见分光光度计UV762

该产品是一种全新的双光束自动扫描紫外可见分光光度计。采用了全新的光学系统设计、微机控制和处理数据、大屏幕LCD中文窗显示操作菜单、光谱图和分析测试数据。具有光度测量、自动扫描测量光谱、定量分析、动力学分光光度分析等多项功能。分析灵敏度和精确度高；光谱数据处理功能强；采用中文人机对话、操作方便；仪器外形美观大方。

广泛用于药品检验、医药卫生、生物化学、环境监测、商品检验、石油化工、黑色和有色冶金等领域，是质量控制、技术鉴定和科学研究所必须的基本设备。
双光束紫外可见分光光度计UV762功能特点：

关键元件采用元件，全新独特的光学系统设计，使仪器的主机具有优良的光学性能和测光性能，杂散光低，测光精确度和稳定可靠性高。

真正的双光束测光系统，配合先进的电路测控系统，使仪器具有较高的可靠性和极低的噪声。

独特的氘灯和钨灯安装，光源自动切换及自动寻找位置的设计和工作方式，使用户操作仪器和维修替换光源更为方便、正确和安全．

采用大屏幕中文窗口(LED)液晶屏显示，具有良好的人机对话界面．

优良的软件设计和编制，使仪器有较强光谱数据处理功能：自动扫描测量光谱,多波长( 1-3λ)测定、动力学测定、１－３次曲线拟合、１－４阶导数光谱、存取显示打印光谱图和分析数据。

基于Windows平台开发的强大软件，界面友好，功能强大，方便您的存储输出，方便办公，节省费用。

性能指标

波长范围：190nm～1100nm

光谱带宽：2nm

波长准确度：≤±0.3nm(开机自动校正)

波长重复性：≤0.2nm

透射比准确度：±0.3%(T)

透射比重复性：0.1%(T)

透射比测量范围：0～200%T

吸光度测量范围：-0.301～3.000A

杂光：≤0.15%(在220nm处，以NAI测定)

漂移：≤0.002A/H （500nm处）

噪声：100%线噪声≤0.15%T；0%线噪声≤0.1%T

扫描速度：快中慢